新型电子元器件在当代的应用是越来越广泛，主要由电子元件业、半导体分立器件和集成电路业等部分组成。电子元器件是发展电子信息技术的基础。了解造成元器件失效的因素，以提高可靠性，是电子信息技术应用的必要保证。要了解电子元器件失效原因，需要采用一些先进的分析测试技术和仪器

1光学显微镜分析技术
2红外分析技术
3液晶热点检测技术
4微分析技术
5声学显微镜分析
6光辐射显微分析技术